近日，丹东百特仪器有限公司自主研发的BeNano纳米粒度及Zeta电位分析仪正式通过中国分析测试协会组织的成果评价。由中国科学院纳米中心王孝平研究员领衔的专家组经过严格评审，一致认定该仪器综合性能达到国际同类产品先进水平，并在多项核心技术上实现重要突破。

权威认证彰显技术实力

此次成果评价会由中国分析测试协会技术部主任吴淑琪研究员主持，汇聚了来自中国科学院、东北大学、北方工业大学等机构的知名专家。专家组实地考察了百特仪器的研发中心、制造车间和质检实验室，对该公司十六年来在纳米颗粒表征领域的技术积累和质量管理体系给予高度评价。

百特仪器总经理董青云向专家组介绍了公司30年的发展历程，产品总监宁辉博士详细汇报了BeNano系列产品的研发背景、技术特点和市场表现。经过资料审阅、现场质询和仪器运行测试等环节，专家组最终给出了"国际先进水平"的权威认定。

技术创新亮点纷呈

BeNano分析仪集成了动态光散射、电泳光散射等六大光学技术，可同时实现纳米粒径、Zeta电位、分子量等12种关键参数的精确测量。其创新性主要体现在：

1. 检测能力突破：采用"消光法动态光散射(LEDLS)"技术，实现了108-1016个/mL高浓度颗粒的精准计数；创新性地将沉降法融入纳米粒度检测，将粒径检测上限扩展至50μm。

2. 分辨率提升：通过"动静态流动模式"设计，将传统仪器的粒径分辨率从1:3提升至1:1.3，并能提供绝对分子量及其分布信息。

3. 测量精度优化：应用"相位分析光散射技术"，显著提高了低迁移率或高盐环境下的Zeta电位测量精度；"毛细管微量样品池技术"仅需1.5μL样品即可完成检测。

4. 多功能集成：独特的楔形样品池与光斑识别技术实现了0.1%精度的液体折射率检测；微流变检测技术可深入表征复杂流体粘弹性；多角度散射光设计支持0.1ppm至40% w/v的宽浓度范围检测。

市场认可与知识产权

目前，BeNano系列产品已成功应用于哈佛大学、剑桥大学等国际知名高校，以及医药、食品、纳米材料等多个产业领域。该产品已申请19项ZhuanLi（授权11项），获得软件著作权1项，充分体现了百特仪器在颗粒表征领域的技术创新能力。

百特仪器表示，此次通过国家级行业协会的权威评价，是对公司30年坚持自主创新的充分肯定。未来，公司将继续深耕颗粒表征领域，为用户提供更先进、可靠的纳米颗粒分析解决方案。