丹东百特仪器有限公司新发布的BeNano 180 Zeta Max纳米粒度及Zeta电位仪，通过创新性地整合沉降法检测技术，成功将纳米粒度仪的检测范围扩展至微米级领域。这一技术突破有效弥补了传统动态光散射技术在大颗粒检测方面的局限性，为科研和工业领域提供了更全面的颗粒表征解决方案。

技术原理创新
该仪器在0°角位置设置了高灵敏度PD检测器，通过实时监测透射光强随时间的变化，基于斯托克斯方程精确计算颗粒的粒径分布。测试过程中需要输入分散介质的折射率、密度、粘度等关键参数，以及样品本身的物理特性数据。这种沉降法测得的是颗粒的斯托克斯径，特别适合几微米至几十微米范围内的颗粒检测。

实验验证
研究团队选取了三种典型材料进行对比测试：

1. 硅酸盐颗粒

2. PMMA颗粒

3. 氧化铝颗粒

实验采用严格的对比方法：

• 使用Bettersize2600激光粒度分析仪获取基准D50值

• 通过BetterPyc 380多功能真密度仪测定样品密度

• 采用标准化的样品制备流程：样品与水按比例混合后置于10mm光程方形样品池

• 测试前进行120秒恒温平衡，确保温度稳定性

数据对比分析
测试结果显示（见表1），在2-60μm范围内，BeNano 180 Zeta Max通过沉降法获得的斯托克斯径D50值与激光粒度仪测得的体积中径D50值具有高度一致性。这一重要发现证实了该仪器在微米级颗粒检测方面的可靠性和准确性。

技术优势与应用价值
此项创新技术具有以下显著特点：

1. 检测范围广：实现纳米至微米级别的全范围覆盖

2. 数据精准：与传统激光衍射法结果高度吻合

3. 操作简便：标准化的测试流程确保结果可重复性

4. 应用广泛：适用于多种材质的微米级颗粒检测

这一技术突破不仅拓展了纳米粒度仪的应用领域，更为材料科学、制药工业等需要精确颗粒表征的领域提供了新的检测手段。百特仪器持续的技术创新再次证明了其在颗粒表征领域的地位。